半導體產業鏈研發領航者汎銓科技(6830) 的「矽光子光損偵測裝置」，近日獲得台灣及日本發明專利，目前持續進行歐美韓中專利申請，該專利涵蓋用於偵測半導體導光晶片導光通道異常現象的裝置與工法，包括光衰、漏光和斷光偵測，能有效解決在矽光子積體光路（PIC）中常見的問題。…more

資料來源：中時新聞網